X熒光光譜儀產(chǎn)品及廠家
xrf(全反射x熒光)分析原理是基于x熒光能譜法，但與x射線能譜形成對比的是，傳統(tǒng)能譜采用原級x光束以45°角轟擊樣品，而txrf采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級x光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生，同時減小了載體的背景和噪聲，亦可減少樣品使用量。tx2000 將全反射和傳統(tǒng)的能量色散集成在同一臺儀器上，創(chuàng)新光學(xué)編碼器的步進電機，保證精確角度測量，軟件控制mo/w靶可自由切換，采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。
更新時間:2025-09-16
最新產(chǎn)品
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