【ixrf】x射線管fx-sem\x-beam結(jié)合了eds和xrf兩者的優(yōu)勢(shì),使其在元素分析方面有自己的獨(dú)特之處,xrf分析具有對(duì)樣品無(wú)破壞、可直接分析不導(dǎo)電樣品、靈敏度更高,能實(shí)現(xiàn)ppm量級(jí)分析等優(yōu)點(diǎn),這是其它能譜產(chǎn)品所不具有的。這種sem+eds+xrf的元素分析方案目前已經(jīng)在美國(guó)得到廣泛推廣和應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-09-16