測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家
多導(dǎo)毛細(xì)聚焦鍍層測(cè)厚儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管x射線光學(xué)系統(tǒng)，對(duì)于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析，能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-17
功能性多導(dǎo)毛細(xì)聚焦鍍層測(cè)厚儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管x射線光學(xué)系統(tǒng)，對(duì)于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析，能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-17
表面無(wú)損厚度測(cè)厚儀,鍍層厚度膜厚儀是天瑞儀器集30多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，研發(fā)的一款x射線熒光鍍層測(cè)厚及成分分析儀。儀器采用多導(dǎo)毛細(xì)管x射線光學(xué)系統(tǒng)，對(duì)于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析，能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-17
半導(dǎo)體功能性鍍層測(cè)厚儀是天瑞儀器集30多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，研發(fā)的一款x射線熒光鍍層測(cè)厚及成分分析儀。儀器采用多導(dǎo)毛細(xì)管x射線光學(xué)系統(tǒng)，對(duì)于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析，能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-17
晶圓金屬鍍膜膜厚儀edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，研發(fā)的一款quan xin上照式x射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片zi動(dòng)切換裝置和雙攝像頭，zi動(dòng)化的 x/y/z 軸的三維移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦jing準(zhǔn)分析。
更新時(shí)間:2025-09-17
晶圓鍍鎳銀錫膜厚儀edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，研發(fā)的一款quan xin上照式x射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片zi動(dòng)切換裝置和雙攝像頭，zi動(dòng)化的 x/y/z 軸的三維移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦jing準(zhǔn)分析。
更新時(shí)間:2025-09-17
鋁膜厚度測(cè)厚儀edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，研發(fā)的一款quan xin上照式x射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片zi動(dòng)切換裝置和雙攝像頭，zi動(dòng)化的 x/y/z 軸的三維移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦jing準(zhǔn)分析。
更新時(shí)間:2025-09-17
硅膜厚度測(cè)厚儀edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，研發(fā)的一款quan xin上照式x射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片zi動(dòng)切換裝置和雙攝像頭，zi動(dòng)化的 x/y/z 軸的三維移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦jing準(zhǔn)分析。
更新時(shí)間:2025-09-17
汽車零部件abs鍍銅鎳鉻膜厚儀設(shè)計(jì)一鍵測(cè)試按鈕和高精密x/y移動(dòng)滑軌使得檢測(cè)方便快捷；對(duì)不同產(chǎn)品大小及材質(zhì)，均可自由切換合適的準(zhǔn)直器、濾光片進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-17
鐵鍍鋁鋅膜厚儀設(shè)計(jì)一鍵測(cè)試按鈕和高精密x/y移動(dòng)滑軌使得檢測(cè)方便快捷；對(duì)不同產(chǎn)品大小及材質(zhì)，均可自由切換合適的準(zhǔn)直器、濾光片進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-17
晶圓鍍鈦鎳金膜厚儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管x射線光學(xué)系統(tǒng)，能在其微小的測(cè)量面積上產(chǎn)生較高的激發(fā) qiang 度。對(duì)于微米級(jí)尺寸電子零件、芯片導(dǎo) 線、晶圓微區(qū)等部件上的鍍層厚度和成分分析，能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-17
晶圓鍍鈦鎳金膜厚儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管x射線光學(xué)系統(tǒng)，能在其微小的測(cè)量面積上產(chǎn)生較高的激發(fā) qiang 度。對(duì)于微米級(jí)尺寸電子零件、芯片導(dǎo) 線、晶圓微區(qū)等部件上的鍍層厚度和成分分析，能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-17
ic封裝載板鍍層膜厚儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管x射線光學(xué)系統(tǒng)，能在其微小的測(cè)量面積上產(chǎn)生較高的激發(fā) qiang 度。對(duì)于微米級(jí)尺寸電子零件、芯片導(dǎo) 線、晶圓微區(qū)等部件上的鍍層厚度和成分分析，能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-17
集成電路板鎳金鍍層膜厚儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管x射線光學(xué)系統(tǒng)，能在其微小的測(cè)量面積上產(chǎn)生較高的激發(fā) qiang 度。對(duì)于微米級(jí)尺寸電子零件、芯片導(dǎo) 線、晶圓微區(qū)等部件上的鍍層厚度和成分分析，能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-17
金屬化陶瓷行業(yè)錳鉬鎳膜厚分析儀采用jin 口的gao功率 gao 壓?jiǎn)卧钆湮⒔拱叩膞光管和較小的準(zhǔn)直器：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等
更新時(shí)間:2025-09-17
天瑞x射線鍍層膜厚分析儀采用jin 口的gao功率 gao 壓?jiǎn)卧钆湮⒔拱叩膞光管和較小的準(zhǔn)直器：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等
更新時(shí)間:2025-09-17
蘇州x熒光金屬膜厚分析儀采用jin 口的gao功率 gao 壓?jiǎn)卧钆湮⒔拱叩膞光管和較小的準(zhǔn)直器：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等
更新時(shí)間:2025-09-17
五金鎖具鍍層厚度膜厚分析儀采用jin 口的gao功率 gao 壓?jiǎn)卧钆湮⒔拱叩膞光管和較小的準(zhǔn)直器：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等
更新時(shí)間:2025-09-17
天瑞xrf鍍層膜厚儀采用jin 口的gao功率 gao 壓?jiǎn)卧钆湮⒔拱叩膞光管和較小的準(zhǔn)直器：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等
更新時(shí)間:2025-09-17
芯片引腳鍍層厚度測(cè)厚儀（多點(diǎn)連測(cè)）edx2000a quan 自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦準(zhǔn)確分析。
更新時(shí)間:2025-09-17
x射線貴金屬鍍層測(cè)厚儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單 及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦 jing 準(zhǔn)分析
更新時(shí)間:2025-09-17
x射線鍍層測(cè)厚儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單 及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦 jing 準(zhǔn)分析
更新時(shí)間:2025-09-17
x熒光半導(dǎo)體器件鍍層測(cè)厚儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單 及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦 jing 準(zhǔn)分析
更新時(shí)間:2025-09-17
緊固件鐵鍍鋅鋁鍍層測(cè)厚儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單 及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦 jing 準(zhǔn)分析
更新時(shí)間:2025-09-17
pcb板鍍層測(cè)厚儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單 及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦 jing 準(zhǔn)分析
更新時(shí)間:2025-09-17
汽車零部件xrf鍍層測(cè)厚儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單 及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦 jing 準(zhǔn)分析
更新時(shí)間:2025-09-17
凹凸面、弧面鍍層測(cè)厚儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單 及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦 jing 準(zhǔn)分析
更新時(shí)間:2025-09-17
x射線磁性材料鍍層測(cè)厚儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單 及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦 jing 準(zhǔn)分析
更新時(shí)間:2025-09-17
x射線水龍頭鍍層測(cè)厚儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單 及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦 jing 準(zhǔn)分析
更新時(shí)間:2025-09-17
x熒光衛(wèi)浴制品鍍層測(cè)厚儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單 及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦 jing 準(zhǔn)分析
更新時(shí)間:2025-09-17
ch-3a型玻璃瓶測(cè)厚儀是采用磁性測(cè)量原理：在被測(cè)的瓶罐內(nèi)放入粒鋼珠，當(dāng)被測(cè)瓶罐內(nèi)的鋼珠靠近儀器上的測(cè)量頭時(shí)，測(cè)量頭上磁場(chǎng)的引力就把鋼珠吸在瓶罐的內(nèi)壁上。這時(shí)鋼珠與測(cè)量頭之間的距離就是被測(cè)的厚度，該厚度與該磁場(chǎng)的作用強(qiáng)度成反比關(guān)系，通過(guò)測(cè)量該磁場(chǎng)強(qiáng)度就測(cè)出了有關(guān)的厚度。
更新時(shí)間:2025-09-17
日本三豐大進(jìn)深型數(shù)顯厚度規(guī)547-321用于測(cè)量固定于表架上的百分表側(cè)頭測(cè)量面相對(duì)于表架測(cè)砧測(cè)量面的直線位移量(厚度)，并由百分表進(jìn)行讀數(shù)的測(cè)量器具，又稱厚度表。
更新時(shí)間:2025-09-16
mpo德菲希爾fischer 測(cè)厚儀德fischer ● 袖珍式外觀,簡(jiǎn)便、快速、無(wú)損的在金屬上測(cè)量涂層厚度電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)
更新時(shí)間:2025-09-16
新聞快報(bào)！德fischer 菲希爾mpo測(cè)厚儀，mpo涂層測(cè)厚儀德菲希爾mpo涂層測(cè)厚儀是款經(jīng)濟(jì)型的儀器可以方便的在2個(gè)液晶顯示器上顯示鍍層厚度的讀數(shù)。
更新時(shí)間:2025-09-16
新聞快報(bào)！蘇州供應(yīng)mvb-2010影像測(cè)量?jī)x，蘇州二次元mvb系列影像測(cè)量?jī)x是種在傳統(tǒng)光學(xué)儀器的基礎(chǔ)上，
更新時(shí)間:2025-09-16
magnescale探規(guī)，厚度規(guī)dt12p,dt12p日本magnescale原（sony）厚度規(guī)，可用于自動(dòng)化測(cè)量，測(cè)量范圍12mm，
更新時(shí)間:2025-09-16
尼克斯涂層測(cè)厚儀7500體分體通用，可通過(guò)更換探頭來(lái)滿足不同的測(cè)量需求。探頭可直接與主機(jī)連接，進(jìn)行體化測(cè)量，也可通過(guò)探頭電纜線來(lái)與主機(jī)連接，進(jìn)行分體測(cè)量。分體測(cè)量操作簡(jiǎn)單，可很大程度上避免誤操作產(chǎn)生的誤差。該儀器主機(jī)有普通型和記憶性兩種，探頭分為磁性探頭、渦流探頭及雙用探頭，探頭的測(cè)量范圍有0-2mm和0-5mm兩種，用戶在購(gòu)買該產(chǎn)時(shí)要根據(jù)需求選購(gòu)合適的探頭
更新時(shí)間:2025-09-16
qyzl-6c6位控制揮發(fā)酚蒸餾器也稱為體化蒸餾儀，多功能蒸餾儀（氨氮蒸餾器、揮發(fā)酚蒸餾器、蒸餾器）采用遠(yuǎn)紅外加熱方法，具有熱效率高、壽命長(zhǎng)、起溫和降溫速度快、加熱時(shí)間和加熱功率可調(diào)等優(yōu)點(diǎn)。儀器可外接循環(huán)水冷卻裝置。整個(gè)系統(tǒng)簡(jiǎn)潔、安裝維護(hù)方便、使用可靠。
更新時(shí)間:2025-09-16
tg-35塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-09-16
stl-8管材測(cè)厚儀是實(shí)用性較強(qiáng)的專用檢測(cè)量具。可測(cè)內(nèi)外徑、深孔溝槽直徑、板厚、壁厚等等一類的尺寸。檢測(cè)直觀，使用調(diào)整方便，是機(jī)械制造、轉(zhuǎn)向機(jī)械、石油化工不可少的測(cè)量器具。是一般通用型量具所無(wú)法替代的檢驗(yàn)工具。對(duì)于代表測(cè)厚儀，在測(cè)量允差大于表2規(guī)定的示值誤差時(shí)，可采用直接測(cè)量法；否則，用比較測(cè)量法，可獲佳測(cè)量效果。
更新時(shí)間:2025-09-16
sl-4型針式測(cè)厚儀是根據(jù)gb/t 5480-2008 《礦物棉及其制品試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的，適用于礦物棉及其制品的厚度測(cè)量。檢測(cè)數(shù)據(jù)、操作方便、簡(jiǎn)單。
更新時(shí)間:2025-09-16
sl-5型板式測(cè)厚儀適用于由礦物棉制成的板、帶厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀是依據(jù)gb/t5480-2008《礦物棉及其制品試驗(yàn)方法》設(shè)計(jì)制造的。本厚度儀適用于由礦物棉制成的板、帶厚度的測(cè)量。具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量范圍大等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-09-16
mtsh-9型熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)定儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：符合gb/t 1633、gb/t 8802、gb/t 1634、iso 2507、iso 75、iso 306、astm d 1525,astm d 648等標(biāo)準(zhǔn)要求。
更新時(shí)間:2025-09-16
針式測(cè)厚儀是分析gb/t 5480-2008 《礦物棉及其制品實(shí)驗(yàn)流程》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的，適合用在礦物棉及其制品的厚°測(cè)量。檢查數(shù)據(jù)準(zhǔn)、使用便捷、易明白。
更新時(shí)間:2025-09-16
針式測(cè)厚儀是依照gb/t 5480-2008 《礦物棉及其制品試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)制作的，適用于礦物棉及其制品的厚度測(cè)量。檢驗(yàn)依據(jù)密、使用便捷、簡(jiǎn)單。
更新時(shí)間:2025-09-16
針式測(cè)厚儀是分析gb/t 5480-2008 《礦物棉及其制品測(cè)試流程》標(biāo)準(zhǔn)打造的，適合用在礦物棉及其制品的厚°算計(jì)。檢測(cè)數(shù)據(jù)確切、操作便捷、簡(jiǎn)單。
更新時(shí)間:2025-09-16
板式測(cè)厚儀適應(yīng)由礦物棉構(gòu)成的板、帶厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀是依據(jù)gb/t5480-2008《礦物棉及其制品測(cè)試方法》研制制造的。本厚度儀正合由礦物棉做成的板、帶厚度的測(cè)量。具有構(gòu)架易明白、運(yùn)用便捷、算計(jì)記錄大等亮點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-09-16
板式測(cè)厚儀適合由礦物棉做成的板、帶厚度的計(jì)算。該測(cè)厚儀是依據(jù)gb/t5480-2008《礦物棉及其制品測(cè)試方法》打造制造的。本厚度儀符合由礦物棉構(gòu)成的板、帶厚度的測(cè)量。能有構(gòu)造易懂、使用輕松、核算情況大等亮點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-09-16
板式測(cè)厚儀適應(yīng)由礦物棉制成的板、帶厚度的算計(jì)。該測(cè)厚儀是依據(jù)gb/t5480-2008《礦物棉及其制品實(shí)驗(yàn)方法》出產(chǎn)制造的。本厚度儀適用于由礦物棉構(gòu)成的板、帶厚度的測(cè)量。能有構(gòu)造好理解、使用便捷、算計(jì)范圍大等亮點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-09-16
最新產(chǎn)品
- PDE4D蛋白 2025/9/17 13:44:35
- ADH1C蛋白 2025/9/17 13:44:11
- ADH4蛋白 2025/9/17 13:43:47
- ADH1A蛋白 2025/9/17 13:42:59
- hDDC蛋白 2025/9/17 13:42:35
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- GALNS蛋白 2025/9/17 13:41:23
- FNTA蛋白 2025/9/17 13:40:35
- EXOSC8蛋白 2025/9/17 13:40:10
- EXOSC5蛋白 2025/9/17 13:39:46
- GRE3蛋白 2025/9/17 13:39:22
- TKT蛋白 2025/9/17 13:38:58
- MTCP1蛋白 2025/9/17 13:38:34
- APC蛋白 2025/9/17 13:38:10
- GMNN蛋白 2025/9/17 13:37:22
- GEMIN6蛋白 2025/9/17 13:36:58
- clpB蛋白 2025/9/17 13:36:33
- SNAP23蛋白 2025/9/17 13:35:45
- P371蛋白 2025/9/17 13:35:21
- 高智能超聲波涂層測(cè)厚儀器 2025/9/17 13:31:06
- VKOR1蛋白 2025/9/17 13:34:57
- hERG蛋白 2025/9/17 13:34:33
- GPR158蛋白 2025/9/17 13:34:09
- YSK蛋白 2025/9/17 13:33:45
- 分體式涂層測(cè)厚儀 2025/9/17 13:29:46
- NEK6蛋白 2025/9/17 13:33:21
- NEK2蛋白 2025/9/17 13:32:33
- MSK1蛋白 2025/9/17 13:32:09
- MRCKα蛋白 2025/9/17 13:31:45
- MELK蛋白 2025/9/17 13:30:56